使用TEGAM 1750进行电感性被测件测试

TEGAM 公司1750 型微欧计是目前市面上测试速度最快、测试精度最高的微欧计。它采用四线测试法(即Kelvin 测试法)消除测试电缆阻值的影响,使用正反向电流测试法消除接触点热电动势的影响,在1750 内部的高精度高稳定性标准电阻随时补偿温漂的影响,并且使用高速逐次逼近(SAR) A/D 转换器提高测试速度,在1750 内部的高精度高稳定性标准电阻随时补偿温漂的影响。但是在一些应用中,1750 高速的测试操作不能进行电感性被测件的低电阻测试。这篇应用文章介绍使用


1750 测试电感性被测件的方法。

使用TEGAM公司1750测试电感性元件

TEGAM 1750 型微欧计有多种测试模式,其中测试精度最高的是延迟模式,在这种模式下,1750 内部的电流源采用的是交换电流极性的正反向电流源。这种正反向电流源在测试电阻性元件时,可以在很短的时间内瞬间稳定下来(如图1 所示)。电感性被测件的存在,会改变正反向电流源的相位角,从而使电感性被测件保持在震荡状态。这种现象体现在1750 测试结果上,就会导致不稳定的读数。如果使用示波器测试电感性被测件两端的波形,可以得到如图2 所示的波形图。


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2018年10月15日 19:56

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使用TEGAM 1750进行电感性被测件测试

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